日立恒温恒湿箱

功能原理：对PCB产品进行高温高湿老化测试；;高压绝缘测试；导通可靠性测试

功能特点：饱和和非饱和测试;高压绝缘测试50V~2000V,电阻83KΩ~33TΩ

技术参数：开料最大尺寸：1、饱和测试121℃100%RH；2非饱和测试130℃85%RH、0.23NPa,96H
DES元素分析

功能原理：通过电子束轰击样品，激发原子内层电子产生特征X射线。探测器接收这些X射线，将其转换为电脉冲，脉冲高度对应元素能量。经放大器放大和多道分析器处理，最终通过能谱峰位和强度定性、定量分析元素成分与含量。

功能特点：采用X射线荧光（XRF）技术，可快速无损分析从钛(Ti)到钚(Pu)的元素

技术参数：加速电压:0.5-30kV 倍率:5-300,000 分辨率129eV
冷热冲击试验箱

功能原理：冷热冲击箱通过快速切换高温和低温环境，模拟极端温度变化，测试产品耐温性能。

功能特点：模拟极端温度条件下的可靠性、稳定性和潜在缺陷

技术参数：1.高温存储（+60℃-200℃），低温储存（-70℃-0℃）

2.材料冷热循环冲击下阻值的变化率监测
高加速寿命试验箱

功能原理：电子零部件以及印刷电路板通过高加速寿命试验箱提供的温度（ 105℃-150℃ ）、湿度（60-100%RH ）、压力的测试环境下，通过高压绝缘可靠性测试仪实时监测其阻值的变化。

功能特点： HAST（非饱和）测试通过高温高湿（如130℃/85%RH）环境加速材料老化，评估PCB绝缘可靠性、防潮性和电迁移风险，常用于汽车电子等高要求领域。

技术参数： 1.PCT（饱和）测试：温度121℃，100%RH，0.205MPa，96H
2.HAST （非饱和）测试：温度130℃，85%RH，0.23MPa，96H